直探針結(jié)構(gòu)*簡單的探針系統(tǒng)包括球度非常好的工業(yè)紅寶石球，桿材料可以選擇。紅寶石是非常硬的材料，做成的探針的磨損量*小。它的密度也非常低，這樣針尖質(zhì)量*小，從而可以避免由于機(jī)器運(yùn)動或振動而造成的探針誤觸發(fā)。使用的桿可以有多種材料可供選擇 – 不銹鋼，碳化鎢，陶瓷和各種特殊的碳纖維材料“Renishaw GF”。 – 這些結(jié)構(gòu)簡單的紅寶石探針更適合于多種檢測應(yīng)用場合。探針的有效的工作長度（EWL）是桿在觸測被測元素之前紅寶石球的變動范圍。如何來選擇球的尺寸和探針的EWL是由待檢測的元素的尺寸決定的。盡可能選擇大的紅寶石探針球和盡可能短的桿，可以保證*大的球/桿距離，這樣可提供更有效的EWL。使用更大一些的紅寶石球可以降低待測組件表面粗糙度的影響。當(dāng)使用長的探針和加長桿組合來測量時(shí)，不推薦使用標(biāo)準(zhǔn)的動態(tài)觸測測頭，由于這種情況下使用時(shí)探針容易彎曲變形，剛性會降低，精度也會損失。這和使用其他類型的測頭如允許有彈性變形的測頭，它們的觸測力非常低，允許使用長的探針和加長桿組合，而不會帶來明顯的精度損失。 直探針圖星型探針這些探針組合在一起允許你使用多探針測頭來測量復(fù)雜的元素和孔。四個(gè)或五個(gè)紅寶石探針安裝在剛性的不銹鋼中心上。可提供標(biāo)準(zhǔn)尺寸探針，也可以選擇不同的探針，你可以使用五方向探針和任一個(gè)RENISHAW提供的探針來組合星型測頭。星型探針可用于檢測多種不同的元素。使用多探針測頭可以有效降低檢測時(shí)間。減少在測量諸如邊緣或凹槽等內(nèi)部特征時(shí)移動測頭到極限點(diǎn)的需要?？梢允褂眯切蜏y頭在Z方向進(jìn)行有效的檢查，這是由于探針可以探測到探針體的直徑范圍外側(cè)。星型探針上的每個(gè)探針都要求校準(zhǔn)，這和單探針校準(zhǔn)方式一樣。 星型探針圖圓盤探針這些探針用于測量鉆孔的切口和凹槽，通常用星型測頭是探測不到的?？梢詫⑺鼈兿胂蟪汕蚨确浅：玫那?span lang="EN-US">“截面”，有多種直徑選擇和厚度選項(xiàng)。所有的旋轉(zhuǎn)調(diào)整和增加中心探針的能力都是RENISHAW圓盤探針的觸測范圍，使其具有柔性和易于使用。用簡單圓盤的“球型邊緣”來探測和使用相當(dāng)?shù)拇筇结樓蚴峭瑯佑行У?。然而，使用球型探爭時(shí)，球表面的小區(qū)域接觸工件，而薄的圓盤卻要求精細(xì)的角度校正，以便保證正確地觸測待測工件。簡單圓盤僅僅要求一個(gè)直徑的驗(yàn)證數(shù)據(jù)（通常在環(huán)行量規(guī)中），但只限制在X 和Y 兩個(gè)方向中。考慮探測深的鉆孔底部會帶來的額外的柔性變形，圓盤也允許有帶螺紋的中心以便可以固定中心測桿（接近圓盤也是有限的）。特殊應(yīng)用的探針多種專用探針可以用來測量多類元素諸如：螺紋體，薄截面材料，工具箱以及其他專業(yè)應(yīng)用。圓柱探針用于探測薄壁材料的孔。此外，各種帶螺紋的元素可以被探測，螺紋中心被定位。球端圓柱探針允許多角度采集數(shù)據(jù)和在X，Y，Z三個(gè)方向探測，這樣可以進(jìn)行表面檢測。尖探針和陶瓷中空球狀探針設(shè)計(jì)尖狀探針是為了檢測螺紋體，特殊的點(diǎn)和劃線。圓端尖探針允許更**的測量和特征元素的探測?？梢杂糜诟〉目椎臋z測。陶瓷材料的中空球狀探針對于探測X，Y和Z三個(gè)方向比較深的元素和鉆孔都是理想的。僅需要一個(gè)探測桿。在這個(gè)范圍有兩型號是直徑18 mm和30 mm。這些探針通常被設(shè)計(jì)與TP2/TP20/TP200和TP6來配合使用。大直徑球的探測可減小粗糙表面的影響。 陶瓷中空球狀探針圖針型測針針型測針不應(yīng)用于傳統(tǒng)的XY測量，因其專用于螺紋牙型、特定點(diǎn)及刻劃線（按較低精度）的檢測。采用針形測針可進(jìn)行更**的標(biāo)定及特征的精細(xì)檢測，并可用于檢驗(yàn)極小的孔的位置。通常不建議在機(jī)床上使用針型測針。 尖探針（針型探針）